在材料科学、纳米技术及先进制造等领域,对微观结构的高精度观测需求日益增长。IXplore Pro 全电动倒置显微镜系统应运而生,凭借其自动化多维观测功能、宽视场成像能力以及先进的图像处理技术,为研究人员提供、精准且灵活的成像解决方案。
IXplore Pro 配备业界 26.5 mm 视场数(FN),显著提升单次采集的信息量。相比传统系统,该设计可在更少图像数量下覆盖更大区域,从而大幅减少图像拼接操作,提高整体工作流程效率。结合智能阴影校正与专利平整度控制技术,确保在整个视场范围内实现边缘到边 ...