饱和高压加速老化试验箱
饱和高压加速老化试验箱应用范围：　
饱和高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

饱和高压加速老化试验箱设备特点：
★、圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.
★、圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.
★、水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量少。
★、专用型packing ,材质：耐高温夕胶发泡成型，内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.
★、实验开始前可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing＜1micom.以确保箱内之纯净度.
★、临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.
★、机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.
★、水箱采用16L大容量水箱，置于箱体底部，**采用自动补水功能；试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.

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