leeb451表面粗糙度仪
leeb451表面粗糙度仪优点:
用优化的电路设计及传感器结构设计,将电箱、驱动器及显示部分合为一体，使其达到高度集成化；任意选择Ra、Rz、Rq、Rt测量参数；不仅可以测量外圆、平面、锥面，还可测长宽大于80×30mm的沟槽。
leeb451表面粗糙度仪技术参数
测量参数：Ra、Rz、Rq、Rt
测量范围:Ra:0.05-10.0μm
测量范围:Ra:0.05-10.0μm；　Rz:0.1-50μm
取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm；
评定长度:1.25mm、4mm、5mm
扫描长度:6mm
示值误差:≤±15％
示值变动性:＜12％
传感器类型:压电晶体
电源:3.7V锂离子电池
工作温度:0oC- 40oC
重量:200g
外型尺寸:106×70×24mm
leeb451表面粗糙度仪标准配置
主机、电源适配器、多刻线样板（粗糙度标准块）、说明书、合格证、保修卡、质量反馈书、手提箱等

漆膜测厚仪，涂镀层测厚仪，电火花检漏仪，测厚仪，红外线测温仪，硬度计